DIASERVER

CONTEXTE D’UTILISATION

Utilisation de la puissance du Boundary Scan dans les Equipements de Test Automatique, (ETA) tels que Teradyne, Agilent, SEICA, etc..

INTRODUCTION

DiaServer est une station de test JTAG conçue pour être intégrée dans n’ importe quel équipement de test automatique (ETA), par exemple les testeurs « In-Circuit » (ICT), les testeurs fonctionnels ou a lit de clous. Le logiciel DiaServer peut être contrôlé via des programmes ou scripts de test écrits dans les différents langages tels TCL, C, C ++, LabView, VIVA etc.. Toutes les fonctions de test sont disponibles via la technologie COM / DCOM. L'utilisation de cette technologie est simple en utilisant les bibliothèques TCL & C / C ++ fournies avec DiaServer mais aussi toutes les applications Visual Basic (VBA). L'exécution des tests peut être entièrement automatisée à partir d'un système central qui contrôle plusieurs testeurs. Le système client envoie des requêtes au serveur Diatem qui les exécutent et retourne un résultat.

FONCTIONS CLES

- interface de programmation COM / DCOM
- Langage et boîte de dialogue TCL
- Présence de toutes les fonctionnalités de test JTAG
- Diagnostic précis des défauts
- Intégration rapide et aisée
- Possibilité de programmation des mémoires flash

TECHNOLOGIE

JTAG – Micro-Testeurs Embarqués (MTE) – émulation de micro-processeurs

AVANTAGES

• Augmentation de la couverture de test
• Réduction du temps de test global
• Diagnostic précis des défauts
• Intégration rapide et aisée

UTILISATEURS

Ingénieurs de test, environnement de production

PLUS D’INFORMATION

Vous pouvez remplir le formulaire de contact (mettre le lien) en expliquant votre besoin ou vous pouvez envoyer un courriel à l’adresse suivante : sales@temento.com. Une réponse vous sera transmise dans les 24 heures.

FLYSCAN

CONTEXTE D’UTILISATION

Station de test conçue pour être intégrée dans les équipements de test à sondes mobiles.

Débogage de cartes électroniques, déverminage, tests de production, tests de réparation.

INTRODUCTION

La combinaison du JTAG et des sondes mobiles permet d’augmenter la couverture de test globale, de permettre de tester les zones non accessibles par des pointes de test (par exemple les boitiers BGA à haute densité) et offrir un diagnostic plus performant.

FONCTIONS CLES

- Double interface graphique et /ou interface de programmation COM / DCOM
- Langage et boîte de dialogue TCL
- Présence de toutes les fonctionnalités de test JTAG
- Diagnostic précis des défauts
- Intégration rapide et aisée
- Possibilité de programmation des mémoires flash par JTAG
- Possibilité de programmation des mémoires flash par micro-testeurs embarqués
- Chargement des fichiers FPGA

TECHNOLOGIE

JTAG – Micro – Testeurs Embarqués (MTE) pour FPGA

AVANTAGES

• Utilisation de toutes les fonctionnalités du test JTAG
• Augmentation de la couverture de test des sondes mobiles
• Réduction du temps de test global
• Diagnostic précis des défauts
• Intégration rapide et aisée
• Possibilité de faire de la programmation de mémoires FLASH
• Possibilité de charger les fichiers binaires pour FPGA

UTILISATEURS

Ingénieurs de développement, ingénieurs de test, ingénieurs de production

PLUS D’INFORMATION

Vous pouvez remplir le formulaire de contact (mettre le lien) en expliquant votre besoin ou vous pouvez envoyer un courriel à l’adresse suivante : sales@temento.com. Une réponse vous sera transmise dans les 24 heures.

FLYSCAN

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