TEMFOX SERIES II

EDITION STANDARD

CONTEXTE D’UTILISATION

Robuste, multi-cibles avec beaucoup de ressources de tests, Temfox est l'équipement adapté pour les applications militaires, aéronautique, médicales et spatiales.
Débogage de cartes électroniques, déverminage, tests de production, test de réparation.

INTRODUCTION

TemFox Series II est un équipement de test modulaire conçu pour le test de cartes électroniques. Entièrement équipée avec des contrôleurs JTAG et JTAG émulation, des alimentations et jusqu’à 600 IO numériques, ce banc permet d'exécuter des tests d'ingénierie en mode structurel et fonctionnel, des tests de production et de réparation.

FONCTIONS CLES

Tests JTAG Structurel

  • Composants BS
  • Interconnexions
  • Clusters
  • Mémoires
  • Connecteurs

Tests JTAG fonctionnels

  • Processeurs
  • FPGA
  • Ethernet
  • USB
  • Mémoires DDR2 /3/4
  • Horloge
  • Bus

Programmation

  • Programmation rapide des Flash
  • NAND Flash
  • Flash NOR
  • FPGA

Débogage

  • identification des défauts au niveau de la broche et du net
  • Débogage au niveau des registres BS
  • Débogage fonctionnel étape par étape
TECHNOLOGIE

JTAG – JTAG Emulation – Micro – testeurs embarqués

AVANTAGES
  • Réutilisable
  • Modulaire
  • Portable
  • Multi-cibles
  • Configuration rapide
  • Piloté par logiciel Diatem
UTILISATEURS

Ingénieurs de développement, ingénieurs de test;

PLUS D’INFORMATION

Vous pouvez remplir le formulaire de contact en expliquant votre besoin ou vous pouvez envoyer un courriel à l’adresse suivante : sales@temento.com. Une réponse vous sera transmise dans les 24 heures.

TEMFOX SERIES II

EDITION DURCIE

CONTEXTE D’UTILISATION

Test et déverminage des cartes électroniques en atmosphère ambiante ou dans une enceinte climatique avec des cycles à chaud ou à froid.

INTRODUCTION

TemFox Series II Ruggedized Edition possède les mêmes ressources et fonctionnalités que l'édition standard, mais il a été personnalisé avec une protection thermique afin d'effectuer des tests en température.

FONCTIONS CLES

Tests JTAG Structurel

  • Composants BS
  • Interconnexions
  • Clusters
  • Mémoires
  • Connecteurs

Tests JTAG fonctionnels

  • Processeurs
  • FPGA
  • Ethernet
  • USB
  • Mémoires DDR2 /3/4
  • Horloge
  • Bus

Programmation

  • Programmation rapide des Flash
  • NAND Flash
  • Flash NOR
  • FPGA

Débogage

  • identification des défauts au niveau de la broche et du net
  • Débogage au niveau des registres BS
  • Débogage fonctionnel étape par étape
TECHNOLOGIE

JTAG – JTAG Emulation – Micro – testeurs embarqués

AVANTAGES
  • Réutilisable
  • Modulaire
  • Portable
  • Multi-cibles
  • Configuration rapide
  • Possibilité de tests en température
  • Piloté par logiciel Diatem
UTILISATEURS

Ingénieurs de développement, ingénieurs de test.

PLUS D’INFORMATION

Vous pouvez remplir le formulaire de contact en expliquant votre besoin ou vous pouvez envoyer un courriel à l’adresse suivante : sales@temento.com. Une réponse vous sera transmise dans les 24 heures.

TESTEUR JTAG HAUTE PERFORMANCE POUR CARTE ÉLECTRONIQUE NUMÉRIQUE

COUVERTURE DE TEST ÉLEVÉE
DIAGNOSTIC RAPIDE
COUTS NON RÉCURRENTS
TESTS A LA FRÉQUENCE DU SYSTÈME

OBSERVER ET DIAGNOSTIQUER LE COMPORTEMENT FONCTIONNEL DE VOTRE CARTE ÉLECTRONIQUE LORS DES TESTS EN TEMPÉRATURE.

Entièrement piloté et contrôlé par notre logiciel de test DiaTem.

EN SAVOIR PLUS
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